+8618700875368

โซลูชันที่ครอบคลุมสำหรับการทดสอบความร้อนของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์โดย LIB

Sep 26, 2025

เมื่อพูดถึงอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ การเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิหรือความชื้นเพียงเล็กน้อยก็อาจทำให้เกิดความล้มเหลวครั้งใหญ่-ข้อต่อบัดกรีที่ร้าว การเคลือบเสื่อมสภาพ หรือไมโครชิปทำงานผิดปกติ นั่นเป็นสาเหตุที่การทดสอบด้านสิ่งแวดล้อมที่เป็นไปตามมาตรฐาน-ที่เชื่อถือได้จึงเป็นสิ่งสำคัญสำหรับผู้ผลิตอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ทุกราย

 

ลิบห้องทดสอบความร้อนได้รับการออกแบบมาเพื่อให้การควบคุมที่แม่นยำ รวดเร็ว และมีเสถียรภาพ ดังนั้นผลิตภัณฑ์ของคุณจึงอยู่รอดได้ในโลกแห่งความเป็นจริง-ไม่ว่าจะอยู่ในความร้อนจัด เย็นจัด ความชื้นสูง หรือการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างกะทันหัน ตั้งแต่การหมุนเวียนของอุณหภูมิ-ความชื้นไปจนถึง-ระยะเวลาสูง-การสัมผัสกับอุณหภูมิที่สูง และอากาศ-}ถึง-การกระแทกของอากาศทันที LIB มอบโซลูชันครบวงจรที่ได้รับความไว้วางใจจากอุตสาหกรรมการบินและอวกาศ ยานยนต์ และอิเล็กทรอนิกส์ทั่วโลก

 

โซลูชันห้องทดสอบอุณหภูมิและความชื้น LIB สำหรับการหมุนเวียนความร้อนและความชื้นของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์

 

 Thermal Testing of Electronics

 Thermal Testing of Electronics

 

การปฏิบัติตามมาตรฐาน

ห้องอุณหภูมิและความชื้น LIB ได้รับการออกแบบทางวิศวกรรมเพื่อให้สอดคล้องกับมาตรฐานที่ได้รับการยอมรับทั่วโลก เพื่อให้ระเบียบวิธีการทดสอบของคุณได้รับการยอมรับจากหน่วยงานกำกับดูแล ลูกค้า และหน่วยงานออกใบรับรอง:

ไออีซี 60068– การทดสอบสภาพแวดล้อมสำหรับอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์และไฟฟ้า

ISO16750– สภาพแวดล้อมและการทดสอบยานพาหนะบนท้องถนน โดยเฉพาะที่เกี่ยวข้องกับ ECU เซ็นเซอร์ และใน-อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ของยานพาหนะ

ไออีซี 61730– การทดสอบการผุกร่อนของโมดูลเซลล์แสงอาทิตย์และอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์พลังงานแสงอาทิตย์

 

ทดสอบความแม่นยำและการทำซ้ำ

อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์มีความไวต่อการเบี่ยงเบนของสภาพแวดล้อมอย่างมาก ห้อง LIB จัดให้มี:

ช่วงอุณหภูมิ: –70 องศาถึง +150 องศา สามารถตั้งโปรแกรมได้ดีเพิ่มขึ้นทีละ 0.1 องศา.

ความแม่นยำ: ความผันผวน ± 0.5 องศา และส่วนเบี่ยงเบน ± 2.0 องศา

ช่วงความชื้น: 20 % RH ถึง 98 % RH โดยคงไว้ภายใน ± 2.5 % RH

อัตราทางลาด: เครื่องทำความร้อนที่3 องศา/นาทีและระบายความร้อนได้ที่1 องศา/นาที, ลดการหยุดทำงานระหว่างรอบให้เหลือน้อยที่สุด

เซนเซอร์: PT100 โพรบคลาส A พร้อมด้วยความละเอียด ± 0.001 องศาสำหรับการตรวจสอบความไวสูง-

 

ความสามารถเหล่านี้ทำให้สามารถทดสอบการปั่นจักรยานได้อย่างแม่นยำ ตั้งแต่การแช่ตัวแบบค่อยเป็นค่อยไปในระยะยาว{{0}ไปจนถึงการเพิ่มความชื้นอย่างรวดเร็ว ตัวอย่างเช่น แผงวงจรพิมพ์สามารถวนระหว่างกันได้–40 องศา และ +85 องศา ที่ 85 % RHเพื่อจำลองการใช้งานภาคสนามห้าปีในเวลาเพียงไม่กี่สัปดาห์

 

 Thermal Testing of Electronics

 Thermal Testing of Electronics

 Thermal Testing of Electronics

ห้องทำงานที่แข็งแกร่ง รูสายเคเบิล เซ็นเซอร์อุณหภูมิและความชื้น

 

โซลูชันการทดสอบอุณหภูมิสูง-สำหรับอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์โดยเตาอบ LIB

 

 Thermal Testing of Electronics

 Thermal Testing of Electronics

ชื่อ

เตาอบแล็บ

แบบอย่าง

O-100

O-500

ขนาดภายใน (มม.)

400*500*500

700*800*900

ขนาดโดยรวม (มม.)

750*880*850

1100*1100*1300

ปริมาณภายใน

100L

500L

ช่วงอุณหภูมิ

A: สภาพแวดล้อม -+250 องศา ,B: สภาพแวดล้อม -+400 องศา ,C: สภาพแวดล้อม -+900 องศา

ความผันผวนของอุณหภูมิ

± 0.5 องศา

การเบี่ยงเบนของอุณหภูมิ

± 2.0 องศา

อัตราความร้อน

6 องศา/นาที

คอนโทรลเลอร์

ตัวควบคุมหน้าจอสัมผัส LCD สี PID, การเชื่อมต่อ Ethernet, PC Link (ตัวเลือก)

วัสดุภายนอก

แผ่นเหล็กเคลือบป้องกัน

วัสดุภายใน

สแตนเลส SUS304

ฉนวนกันความร้อน

โพลียูรีเทนโฟม(อิฐทนไฟ)

พาวเวอร์ซัพพลาย

380V 50Hz

เงื่อนไขด้านสิ่งแวดล้อม

5 องศา -+35 องศา น้อยกว่าหรือเท่ากับ 85% RH

 

ความสามารถด้านอุณหภูมิที่สูงมาก

สำหรับกระบวนการที่ต้องการความเครียดจากความร้อนที่เพิ่มขึ้น เตาอบเพื่อสิ่งแวดล้อม LIB จะให้หน้าต่างการทำงานที่กว้างจากโดยรอบได้ถึง 1200 องศา. ซึ่งครอบคลุมการใช้งานที่หลากหลาย เช่น:

การบ่มโพลีเมอร์สำหรับสารห่อหุ้มหรือกาวในบรรจุภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์

การทดสอบโลหะผสมสำหรับขั้วต่อและเปลือกหุ้ม

อายุความร้อนสำหรับการประเมินความน่าเชื่อถือของเซมิคอนดักเตอร์

 

ความแม่นยำในการดำเนินงาน

ความมั่นคง: ความผันผวน ± 0.5 องศา และส่วนเบี่ยงเบน ± 2.0 องศา ทั่วทั้งห้องเพาะเลี้ยง

อัตราทางลาด: ขึ้นไป6 องศา/นาทีช่วยลดรอบเวลาในห้องปฏิบัติการการผลิตได้อย่างมาก

เครื่องทำความร้อนสม่ำเสมอ: การหมุนเวียนของพัดลมคู่-ช่วยให้มั่นใจได้ว่าจุดร้อนและเย็นจะถูกกำจัดออกไป โดยให้ผลลัพธ์ที่สม่ำเสมอสำหรับชิ้นงานทดสอบทุกชิ้น

 

มาตรฐานที่เกี่ยวข้อง

IEC 60068-2-2: การทดสอบความร้อนแห้งสำหรับอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์

IEC 60068-2-78: ความร้อนชื้น สภาพคงที่-

 

สร้างขึ้นจากภายในสแตนเลส SUS304ด้วยฉนวนโพลียูรีเทน เตาอบ LIB จะรักษาประสิทธิภาพการระบายความร้อนในขณะที่ลดต้นทุนด้านพลังงาน การออกแบบที่แข็งแกร่งนี้รับประกันความสามารถในการทำซ้ำใน-การทดลองที่มีระยะเวลายาวนาน ทำให้เป็นสิ่งที่ขาดไม่ได้ในการตรวจสอบวงจรชีวิต-ของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์สำหรับผู้บริโภค แบตเตอรี่ EV หรือระบบการบินและอวกาศ

 

โซลูชันการทดสอบแรงกระแทกจากความร้อนสำหรับอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์: สอง-ห้องและ-ห้องโดย LIB

 

ห้องช็อกความร้อนแบบโซน-สองห้อง

 

ลิบส์สอง-ห้องโซนจัดให้มีวิธีการถ่ายโอนโดยตรง โดยจะเคลื่อนย้ายชิ้นงานทดสอบระหว่างสองโซนที่ควบคุมโดยอิสระ-โซนร้อนและโซนเย็น ตะกร้าที่บรรจุตัวอย่างจะเคลื่อนที่ในแนวตั้งหรือแนวนอนระหว่างโซนเหล่านี้3 วินาทีหรือน้อยกว่าทำให้มั่นใจได้ถึงการเปลี่ยนผ่านความร้อนอย่างรวดเร็วโดยไม่ต้องสัมผัสกับอากาศแวดล้อม

 

ข้อมูลจำเพาะหลัก

ช่วงอุณหภูมิ: –75 องศาถึง +220 องศา

เวลาถ่ายโอน: น้อยกว่าหรือเท่ากับ 3 วินาที

เวลาพักฟื้น: น้อยกว่าหรือเท่ากับ 5 นาทีหลังการถ่ายโอน

ความแม่นยำ: ความผันผวนน้อยกว่าหรือเท่ากับ ± 0.5 องศา ; ส่วนเบี่ยงเบนน้อยกว่าหรือเท่ากับ ± 3.0 องศา

 

การใช้งาน
ระบบสอง-เหมาะเป็นพิเศษสำหรับเซมิคอนดักเตอร์ ส่วนประกอบ PCB และอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ ซึ่งการสัมผัสซ้ำกับวงจรที่ร้อนและเย็นจัดเผยให้เห็นจุดอ่อนของข้อต่อประสาน ความล้าของวัสดุ และความน่าเชื่อถือในการยึดเกาะ มีขนาดกะทัดรัด มีประสิทธิภาพ และเหมาะสำหรับห้องปฏิบัติการที่ต้องการการหมุนเวียนอย่างต่อเนื่องโดยไม่หยุดชะงัก

 

ห้องช็อกความร้อนแบบโซน-สามห้อง

 

ลิบส์ห้องสาม-โซนเพิ่มโซนโดยรอบเฉพาะนอกเหนือจากโซนร้อนและเย็น แทนที่จะถ่ายโอนโดยตรง ตัวอย่างจะถูกหมุนเวียนโดยอัตโนมัติร้อน → โดยรอบ → เย็น, หรือเย็น → โดยรอบ → ร้อนเป็นการจำลองการเปลี่ยนแปลงของอุณหภูมิโลกจริง-อย่างใกล้ชิด โดยที่ผลิตภัณฑ์ค่อยๆ ผ่านสภาวะขั้นกลาง

 

ข้อมูลจำเพาะหลัก

ช่วงอุณหภูมิ: –75 องศาถึง +220 องศา

เวลาถ่ายโอน: น้อยกว่าหรือเท่ากับ 3 วินาทีระหว่างโซน

เวลาพักฟื้น: น้อยกว่าหรือเท่ากับ 5 นาทีหลังการถ่ายโอน

ความแม่นยำ: ความผันผวนน้อยกว่าหรือเท่ากับ ± 0.5 องศา ; ส่วนเบี่ยงเบนน้อยกว่าหรือเท่ากับ ± 3.0 องศา

 

การใช้งาน
ระบบสาม-โซนเหมาะอย่างยิ่งสำหรับอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ในยานยนต์ อุปกรณ์การบินและอวกาศ และไมโครอิเล็กทรอนิกส์ระดับ-การป้องกัน ซึ่งส่วนประกอบต่างๆ มักจะประสบกับการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างกะทันหันแต่หลาย-ขั้น เช่น การเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิจากภายนอก-ไปเป็น-การเปลี่ยนแปลงภายในอาคารหรือระดับความสูง- ห้องเหล่านี้รับประกันการจำลองสภาพแวดล้อมที่ซับซ้อนที่ครอบคลุมมากขึ้นเมื่อเปรียบเทียบกับระบบสอง-โซน

 

การปรับแต่ง หลัง-การขาย และการบริการจัดส่งสำหรับห้องทดสอบความร้อนของ LIB Electronics

 

ปรับให้เหมาะกับความต้องการของคุณ

พอร์ตเคเบิลหลายช่อง ตัวยึดตัวอย่าง และโซลูชันฟิกซ์เจอร์

ขนาดตั้งแต่ห้องแบบตั้งโต๊ะขนาด 100 ลิตรถึงระบบเดินเข้า 1,000 ลิตร-.

โปรไฟล์ที่ตั้งโปรแกรมได้ด้วยจัดเก็บโปรแกรมได้มากถึง 120 โปรแกรมและขั้นละ 100 ก้าว.

 

ความปลอดภัยและการป้องกัน

การป้องกันอุณหภูมิเกิน-และการรั่วไหล

การป้องกันลำดับเฟส-และการเชื่อมต่อสายดิน

 

หลัง-ความมุ่งมั่นในการขาย

รับประกัน 3 ปีพร้อมการบำรุงรักษาตลอดอายุการใช้งาน

การสนับสนุนด้านเทคนิคที่พูดภาษาอังกฤษตลอด 24 ชั่วโมงทุกวัน-

การจัดหาอะไหล่-ทั่วโลกและหน่วยทดแทนฟรีหากไม่สามารถแก้ไขปัญหาระยะไกลได้

 

ด้วยห้องอุณหภูมิ-ความชื้นที่แม่นยำ เตาอบที่มีอุณหภูมิสูง- และห้องช็อกแบบรวดเร็ว LIB ช่วยให้ผู้ผลิตอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์มีทุกสิ่งที่จำเป็นสำหรับการปฏิบัติตามข้อกำหนด ความทนทาน และความน่าเชื่อถือของผลิตภัณฑ์

 

ติดต่ออุตสาหกรรม LIBวันนี้เพื่อขอใบเสนอราคาที่กำหนดเอง ค้นพบว่า LIB สามารถช่วยทีมของคุณเร่งการทดสอบ ลดต้นทุน และปฏิบัติตามมาตรฐานสากลได้อย่างมั่นใจได้อย่างไร

ส่งคำถาม